フィラメント不具合解
当社は、充実した品質管理を達成するため、長年にわたってお客様先で発生するフィラメント関連不具合調査を行ってきました。
不具合のほとんどは早期断線(寿命未達)ですが、その原因はフィラメント、導入線、ガラスなどの部材不良による場合と電球の製造プロセスによる場合があります。
当社では、簡易元素分析が可能な電子顕微鏡、金属顕微鏡、実体顕微鏡、画像寸法測定器、抵抗測定器などを取り揃え、蓄積された経験を元に不具合解析を行います。
ご要望により当社製以外のフィラメントの解析も賜っておりますので、お気軽にお問い合わせくださいませ。
破断形状による原因
原 線 の 欠 陥・・・・線材に、クラックがあり、巻線後に破断したケースを示します。
明らかに原線製造時に発生したクラックに沿って、コイリング時に裂け割れを起こしています。
結 晶 成 長 欠 陥・・・衝撃によりタングステンコイルが断線したケースを示します。
破断面は、ファイバー状と2次再結晶の流内破断組織で構成されています、結晶が長大にならず衝撃によ
り粒界から断線したと推定されます。
脆化組織
汚 染 脆 化・・・・タングステン線に異元素材料が接触した後電球が製造され、点灯で高温になると、異元素とタングステンの金属間化合物を形成し、再結晶温度が低下する場合があります。
これらの組織は極度に脆化し破断しやすくなります、異元素として導入線Niに限らずガラス粉汚染、油分付着汚染などが報告されています。